鎢礦石、鉬礦石化學(xué)元素成分檢測(cè)儀

鎢礦石、鉬礦石元素成分檢測(cè)儀（基于X射線熒光光譜法/ICP光譜法）介紹

在礦產(chǎn)資源開發(fā)與利用領(lǐng)域，準(zhǔn)確測(cè)定鎢礦石、鉬礦石中的元素成分至關(guān)重要。基于X射線熒光光譜法（XRF）和電感耦合等離子體光譜法（ICP）的鎢礦石、鉬礦石元素成分檢測(cè)儀，憑借其優(yōu)勢(shì)成為行業(yè)得力工具。

X射線熒光光譜法檢測(cè)儀

XRF檢測(cè)儀基于X射線與物質(zhì)相互作用產(chǎn)生熒光X射線的原理工作。當(dāng)高能X射線照射到鎢礦石、鉬礦石樣品表面時(shí)，樣品中的原子內(nèi)層電子被激發(fā)，外層電子躍遷*空位，釋放出具有特定能量的熒光X射線。不同元素發(fā)出的熒光X射線能量不同，通過檢測(cè)這些射線的能量和強(qiáng)度，就能確定樣品中元素的種類和含量。

該檢測(cè)儀具有諸多優(yōu)點(diǎn)。首先，它是一種無損檢測(cè)技術(shù)，無需對(duì)樣品進(jìn)行復(fù)雜的預(yù)處理，保留了樣品的原始狀態(tài)，減少了因樣品處理帶來的誤差。其次，檢測(cè)速度快，能在短時(shí)間內(nèi)完成對(duì)多種元素的同時(shí)分析，大大提高了檢測(cè)效率，適合大規(guī)模礦石樣品的快速篩查。再者，操作相對(duì)簡(jiǎn)便，對(duì)操作人員的技術(shù)要求不高，經(jīng)過簡(jiǎn)單培訓(xùn)即可上手。此外，儀器穩(wěn)定性好，長(zhǎng)期使用仍能保持較高的檢測(cè)精度。不過，XRF檢測(cè)儀對(duì)于輕元素的檢測(cè)靈敏度相對(duì)較低，且在分析復(fù)雜基體樣品時(shí)可能存在基體效應(yīng)干擾，需要采用合適的校正方法。

儀器技術(shù)性能

真正實(shí)現(xiàn)在現(xiàn)場(chǎng)進(jìn)行無損,快速,準(zhǔn)確的檢測(cè),直接顯示元素的ppm含量與百分比含量。

只需將礦石分析儀直接接觸待測(cè)礦石表面，無須等待和花費(fèi)時(shí)間即可現(xiàn)場(chǎng)確定礦石等級(jí)。

被檢測(cè)的樣品的對(duì)象可以是礦石、巖石、礦渣、碎片;土壤、泥土、泥漿;粉塵、灰塵、過濾物、薄膜層;廢水、廢油等等的固體、液體物質(zhì)。

快的分析速度, 僅需2秒鐘就可識(shí)別元素。

用戶化windows CE 6.0系統(tǒng)驅(qū)動(dòng)的微電腦顯示系統(tǒng)使所有功能皆可現(xiàn)場(chǎng)完成，用戶化windows CE僅保留有windows與Delta系統(tǒng)有關(guān)的性能，使程序更具靈活性。

無需借助電腦，可在現(xiàn)場(chǎng)隨意，查看，放大相關(guān)元素的光譜圖。

防塵,防霧,防水：一體機(jī)設(shè)計(jì)，軟膠與塑膠部件凹凸槽構(gòu)造設(shè)計(jì)，使儀器具有很好的三防性能，可承受惡劣的工作環(huán)境,大霧,下雨,塵土飛揚(yáng)工裝場(chǎng)地也能正常工作。

超大功率。40KV，100mA高達(dá)4W的大功率X射線管技術(shù)使儀器具有更低檢測(cè)下限。

腰帶、槍套、肩帶能將儀器牢牢地固定在你的腰部，可在野外活動(dòng)自如。

更高的檢測(cè)精度，多次測(cè)試的平均值統(tǒng)計(jì)功能可有效地提高儀器的檢測(cè)精度。

超大的圖標(biāo)顯示，菜單式驅(qū)動(dòng)，微電腦WINDOWS系統(tǒng)使儀器操作更加簡(jiǎn)便。

電磁干擾被屏蔽，即使在靠近手機(jī)或雙向無線通信裝置處也能正常工作。

儀器元素分析范圍

可分析從從鎂(Mg)到钚(Pu)之間的所有83種元素。

電感耦合等離子體光譜法檢測(cè)儀

ICP光譜儀利用高頻電感耦合等離子體作為激發(fā)光源，將樣品溶液霧化后引入等離子體，樣品中的原子被激發(fā)至高能態(tài)，當(dāng)原子從高能態(tài)躍遷回低能態(tài)時(shí)，會(huì)發(fā)射出特定波長(zhǎng)的光譜線。通過檢測(cè)這些光譜線的波長(zhǎng)和強(qiáng)度，就能確定樣品中元素的種類和含量。

ICP光譜儀的檢測(cè)精度好，能夠準(zhǔn)確測(cè)定鎢礦石、鉬礦石中痕量元素的含量，對(duì)于研究礦石的成因、品質(zhì)評(píng)估等具有重要意義。它的線性范圍寬，可同時(shí)分析高、低含量元素，滿足不同礦石樣品的檢測(cè)需求。而且，基體干擾小，對(duì)復(fù)雜基體樣品的適應(yīng)性強(qiáng)。但I(xiàn)CP光譜儀需要對(duì)樣品進(jìn)行溶解等預(yù)處理，操作過程相對(duì)復(fù)雜，且儀器成本較高，運(yùn)行維護(hù)費(fèi)用也相對(duì)昂貴。

無論是基于X射線熒光光譜法還是ICP光譜法的鎢礦石、鉬礦石元素成分檢測(cè)儀，都在礦石分析領(lǐng)域發(fā)揮著重要作用，用戶可根據(jù)實(shí)際需求選擇合適的儀器。

 儀器技術(shù)參數(shù)：

  1、輸入電源：電壓交流220V，電流20A。

  2、采用CzernyTurner型光路，焦距為1000mm。

  3、離子刻蝕全息光柵，刻劃面積（80×110）mm。

  4、全自動(dòng)一鍵點(diǎn)火，自動(dòng)匹配，點(diǎn)火穩(wěn)定、便捷。

  5、采用同心圓霧化器搭配旋流霧室，1ppmMn強(qiáng)度＞1000000cps。

  6、分辨率（Mn257、610nm）：≤0、005nm（4320刻線光柵）；≤0、008nm（3600刻線光柵）；≤0、015nm（2400刻線光柵）。

  7、波長(zhǎng)范圍：190-460nm（4320刻線光柵）；190-500nm（3600刻線光柵）；190-800nm（2400刻線光柵）

  8、自主研發(fā)全固態(tài)射頻電源，輸出功率800-1600W,連續(xù)可調(diào)，電源效率大于65%，工作頻率27、12MHz，頻率穩(wěn)定性＜0、05%，功率輸出穩(wěn)定性＜0、05%。

詳細(xì)指標(biāo)參數(shù)如下：

說明：下表為檢定用溶液標(biāo)準(zhǔn)

表A.1 檢定波長(zhǎng)用標(biāo)準(zhǔn)溶液

                            表A.2 工作曲線系列標(biāo)準(zhǔn)溶液               單位：mg/L

鎢礦石、鉬礦石化學(xué)元素成分檢測(cè)儀