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簡要描述：石灰石白云石高鈣石元素成分含量檢測儀X射線光譜儀在石灰石、白云石、高鈣石等礦石元素成分含量測試方面具有快速、無損、精確度高、基體效應(yīng)和顆粒效應(yīng)影響小、在線分析和多元素同時分析等優(yōu)點。這些優(yōu)點使得該儀器成為礦石元素成分含量測試的常用工具之一。
產(chǎn)品型號：廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家更新時間：2025-07-08訪 問 量：1376產(chǎn)品分類
Product classification詳細介紹
石灰石白云石高鈣石元素成分含量檢測儀
X射線光譜儀可以應(yīng)用于石灰石、白云石、高鈣石等礦石元素成分含量測試。以下是相關(guān)介紹：
1. 工作原理：X射線光譜儀利用X射線照射樣品，激發(fā)出元素的特征X射線，這些X射線的波長或能量與元素的種類和含量有關(guān)。通過測量這些特征X射線的波長或能量，可以確定樣品中元素的種類和含量。
2. 樣品制備：對于石灰石、白云石、高鈣石等礦石樣品，需要進行適當?shù)闹苽洌缙扑椤⒀心サ龋允蛊淠軌虮?/span>X射線照射并產(chǎn)生足夠的特征X射線。
3. 分析特點：X射線光譜儀具有快速、無損、準確等特點。它可以同時分析多種元素，且分析精度高，適用于石灰石、白云石、高鈣石等礦石元素成分含量測試。
4. 應(yīng)用范圍：X射線光譜儀在地質(zhì)、冶金、環(huán)保等領(lǐng)域都有廣泛的應(yīng)用。它可以用于分析巖石、礦物、土壤等樣品中的元素成分含量。
需要注意的是，對于具體的礦石樣品測試，還需要考慮樣品的產(chǎn)地、采集時間、保存方式等可能影響測試結(jié)果的因素。同時，在進行測試時，也需要根據(jù)具體的儀器型號和操作規(guī)程進行樣品制備和測試操作，以確保測試結(jié)果的準確性和可靠性。以下詳細介紹：
X熒光光譜儀（臺式）：
技術(shù)規(guī)格
測量元素范圍 | 從鈉(Na)到鈾(U) |
測量濃度范圍 | ppm—99.99% (不同元素，分析范圍不同) |
測量對象狀態(tài) | 粉末、固體、液體 |
元素分析能力 | 一次性可測從鈉(Na)到鈾(U)之間幾十種元素 |
*分辨率 | 129eV±5eV |
**分析精度 | RSD≤0. 1% (國標標樣) |
分析時間 | 單次測試時間可調(diào) |
制冷方式 | 電制冷，無需任何耗材 |
大樣品腔尺寸 | 400mm x 340mm x 80mm |
抽真空樣品腔尺寸 | φ100mm×h75mm |
外觀尺寸 | 700mmx510 mmx336mm |
工作電源 | AC 220V ±5V 、50Hz |
工作環(huán)境 | 室內(nèi)溫度 15~30℃；相對濕度 ≤80% (不結(jié)露) |
整機重量 | 56KG |
性能特點
分析效率 | 速度快、精度好、效率高，采用自主研發(fā)的分析軟件能在 1- 120 秒內(nèi)同時完成從 11 鈉 (Na) 至 92 鈾 (U) 之間幾十種元素的 同步準確分析 |
功能優(yōu)勢 | 1. 外形設(shè)計：大方美觀、堅固耐用、多重安全防護模式。 2. 準直濾光系統(tǒng)：準直器+多組合濾光片，軟體自動切換， 滿足各種測試應(yīng)用。 3. 采用自主研發(fā)的SES 信號處理系統(tǒng) (數(shù)字多道) ，有效提 高峰背比，讓測量更精準。 4. 多維散熱系統(tǒng)：優(yōu)化一體化散熱設(shè)計，使整機散熱性能得 到更大提高，確保 X 射線源的運行安全 5. 輻射安全系統(tǒng)：多重防輻射泄露設(shè)計，輻射防護級別屬于 同類產(chǎn)品好級 6. 真空系統(tǒng)：選擇抽真空系統(tǒng)，優(yōu)化測試環(huán)境，提高鎂鋁硅 磷硫等輕元素的分析精度，大大擴展分析儀的分 析能力。 |
7. 機芯溫度監(jiān)控技術(shù)，確保射線源的安全可靠運 行，有效延長其使用壽命，降低使用成本 | |
硬件優(yōu)勢 | 8. 核心部件整套進口 9. 探測器：原裝美國 Amptek 硅漂移 SDD 探頭，分辨率低 至 129eV±5eV ，能量線性和能量分辨率好，高峰背比。 10. X 射線 管 ： *大 功率 50W 、 管 電壓 5-50KV 、 管 電流 0- 1000uA；長壽命 X 射線管。 11. 高壓電源：*大功率 50 W、電壓 0 -50 KV、電流 0- 1000uA。 8 小時穩(wěn)定性≤0.05%。 12. 信號處理器：采用進口信號處理器，適應(yīng)高分辨率和高計 數(shù)率， 自調(diào)放大倍數(shù)，*大道數(shù)： 4096。 |
軟件優(yōu)勢 | 美國丹納赫和我司共同研發(fā)的 X 熒光分析軟件中文版，該軟 件融合經(jīng)驗系數(shù)法、理論α系數(shù)法、線性擬合、二次曲線、強 度校正、含量校正等多種分析方法，全面保證測試數(shù)據(jù)的準確 性。 |
儀器配置
系統(tǒng)標配 | 1. 數(shù)字多道型 SDD 探測器 2. X 射線源 3. 高壓電源 4. 性噪比電子線路系統(tǒng) 5. 光路增強系統(tǒng) 6. 8 準直+5 濾光片 7. 數(shù)字多道分析器 8. 抽真空系統(tǒng) 9. 品牌噴墨打印機 10. 品牌計算機 11. X 熒光全元素分析軟件 12. 樣品杯、保險絲 13. 光譜專用穩(wěn)壓電源 (選配) |
系統(tǒng)選配 | 1. 光譜專用研磨機 (選配) 2. 光譜專用熔樣機 (選配) 3. 光譜專用制粉機 (選配) 4. 熔樣鉑金坩堝 (選配) 5. 光譜儀專用壓片機 (選配) |
石灰石白云石高鈣石元素成分含量檢測儀
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